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產(chǎn)品系列

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落地式火花直讀光譜儀
新一代SPECTROLAB落地式火花直讀光譜儀完成了元素分析的偉大創(chuàng)新。穩(wěn)定性，靈活性和分析功能集于一身，PMT/CCD雙檢測(cè)器光學(xué)系統(tǒng)和全新突破的CCD光學(xué)系統(tǒng)為科研和過(guò)程/質(zhì)量控制設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)。...
斯派克x射線熒光光譜儀
斯派克x射線熒光光譜儀與同類產(chǎn)品相比性能，在幾秒鐘時(shí)間內(nèi)可以提供實(shí)驗(yàn)室級(jí)的分析結(jié)果。經(jīng)過(guò)優(yōu)化的SPECTRO xSORT光譜儀現(xiàn)已能滿足現(xiàn)場(chǎng)連續(xù)高強(qiáng)度測(cè)量作業(yè)需要。
xrf熒光光譜儀
xrf熒光光譜儀是德國(guó)斯派克分析儀器公司新開(kāi)發(fā)的具有超高速元素分析能力的手持式X熒光光譜儀，可滿足多種金屬基體材料以及土壤，塑膠，礦石等多種復(fù)雜材料的光譜化學(xué)成分分析需要。以其的分析速度，媲美實(shí)驗(yàn)室級(jí)...
手持x射線熒光光譜儀
SPECTRO xSORT手持x射線熒光光譜儀無(wú)需樣品前處理、進(jìn)行非破壞性分析；短時(shí)間現(xiàn)場(chǎng)快速直接分析測(cè)定，可直接對(duì)土壤、泥土、泥漿、煤質(zhì)、灰塵、粉塵、過(guò)濾物、薄膜、礦渣、礦粉等未知樣品進(jìn)行‘解剖’分...
進(jìn)口X射線熒光光譜儀
SPECTRO xSORT進(jìn)口X射線熒光光譜儀無(wú)需樣品前處理、進(jìn)行非破壞性分析；短時(shí)間現(xiàn)場(chǎng)快速直接分析測(cè)定，可直接對(duì)土壤、泥土、泥漿、煤質(zhì)、灰塵、粉塵、過(guò)濾物、薄膜、礦渣、礦粉等未知樣品進(jìn)行‘解剖’分...
手持式合金光譜儀
在大多數(shù)應(yīng)用場(chǎng)合，如金屬牌號(hào)鑒別，SPECTRO xSORT手持式X射線熒光光譜儀可以在區(qū)區(qū)兩秒的分析時(shí)間內(nèi)給出金屬牌號(hào)以及實(shí)驗(yàn)室級(jí)的材料化學(xué)組成分析結(jié)果。而對(duì)于復(fù)雜基體分析如環(huán)境監(jiān)測(cè)分析，xSORT...
手持式RoHS光譜儀
SPECTRO xSORT手持式RoHS光譜儀與同類產(chǎn)品相比性能，在幾秒鐘時(shí)間內(nèi)可以提供實(shí)驗(yàn)室級(jí)的分析結(jié)果。經(jīng)過(guò)優(yōu)化的SPECTRO xSORT光譜儀現(xiàn)已能滿足現(xiàn)場(chǎng)連續(xù)高強(qiáng)度測(cè)量作業(yè)需要。
輝光放電光譜儀
輝光放電光譜儀（GDA）于1968年*出現(xiàn)，用于各種塊狀金屬和合金的光譜化學(xué)分析。這種分析方法不斷地發(fā)展，尤其擅長(zhǎng)于表面和涂層分析。與傳統(tǒng)的激發(fā)技術(shù)相比，輝光放電技術(shù)的突出優(yōu)點(diǎn)是能夠表層分析樣品的表層...

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